DSpace  
 

Электронная библиотека >
Диссертации и авторефераты диссертаций >
Диссертации >

Идентификатор документа - используйте, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://dep.nlb.by/jspui/handle/nlb/25459

Заглавие: Анализ нанотопографии поверхностей и локальных физико-механических свойств материалов с помощью атомно-силового микроскопа на базе камертонного датчика
Автор(ы): Во Тхань Тунг
Ответственные лица и организации: научный руководитель Чижик Сергей Антонович
Белорусский государственный университет
Ключевые слова: ФИЗИКА КОНДЕНСИРОВАННЫХ СРЕД
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ФИЗИКА
АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ
СТРУКТУРА ПОВЕРХНОСТИ
ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Дата публикации: 2009
Описание: диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
01.04.07 ; 01.04.01
защищена 29.04.09
утверждена 20.05.09
Индекс УДК: 531.717.8.085.332.5(043.3)
621.385.833.2(043.3)
Номенклатура специальности: 01.04.07
01.04.01
Находится в коллекции:Диссертации

Файлы документа:

Файл Описание РазмерФормат
default.html120 BHTMLОткрыть

Все документы в электронной библиотеке защищены авторским правом.

 

Valid XHTML 1.0! Программное обеспечение DSpace Copyright © 2002-2010  Duraspace - Обратная связь