DSpace  
 

Электронная библиотека >
Диссертации и авторефераты диссертаций >
Диссертации >

Идентификатор документа - используйте, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://dep.nlb.by/jspui/handle/nlb/26036

Заглавие: Автоматический контроль топологии субмикронных планарных структур в производстве изделий микроэлектроники
Автор(ы): Аваков Сергей Мирзоевич
Ответственные лица и организации: научный консультант С. Е. Карпович
Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники"
Ключевые слова: МИКРОЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
ПЛАНАРНАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
ТОПОЛОГИЯ
СВЕРХБОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
ФОТОШАБЛОНЫ
ФОТОЛИТОГРАФИЯ
АВТОМАТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ
Дата публикации: 2007
Описание: диссертация на соискание ученой степени доктора технических наук
05.27.06
защищена 03.04.08
утверждена 25.06.08
Индекс УДК: 621.382.049.771.14/.16-027.3:658.562(043.3)
Номенклатура специальности: 05.27.06
Находится в коллекции:Диссертации

Файлы документа:

Файл Описание РазмерФормат
default.html120 BHTMLОткрыть

Все документы в электронной библиотеке защищены авторским правом.

 

Valid XHTML 1.0! Программное обеспечение DSpace Copyright © 2002-2010  Duraspace - Обратная связь