DSpace  
 

Расширенный поиск
Главная страница
 
Просмотр
Разделы
 и коллекции
По дате публикации
По автору
По заглавию
По ключевым словам
По номенклатуре специальностей
По индексу УДК
 
 
Сотрудникам НББ:
Подписка
Мой кабинет
авторизированные пользователи
Редактировать профиль

Электронная библиотека >
Диссертации и авторефераты диссертаций >
Авторефераты диссертаций >

Идентификатор документа - используйте, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://dep.nlb.by/jspui/handle/nlb/27441

Заглавие: Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок
Автор(ы): Кутавичюс Виталий Пранасович
Ответственные лица и организации: Нац. акад. наук Беларуси, Гос. науч. учреждение "Ин-т физики им. Б.И.Степанова Нац. акад. наук Беларуси"
Ключевые слова: ОПТИКА
ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
СПЕКТРОФОТОМЕТРИЯ
СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ
ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ
АПТЫЧНЫЯ ЎЛАСЦІВАСЦІ
ТОНКІЯ ПЛЁНКІ
СПЕКТРАФОТАМЕТРЫЯ
СПЕКТРАМЕТРЫЧНЫЯ МЕТАДЫ
ІНТЭРФЕРАМЕТРЫЧНЫЯ МЕТАДЫ
ОПТЫКА
Дата публикации: 2004
Описание: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук
01.04.05
Рез.: белорус., рус., англ
Библиогр.: с. 16-17 (11 назв.).
Индекс УДК: 539.216.2(043.3)
535.243(043.3)
Номенклатура специальности: 01.04.05
Находится в коллекции:Авторефераты диссертаций

Файлы документа:

Файл Описание РазмерФормат
default.html117 BHTMLОткрыть

Все документы в электронной библиотеке защищены авторским правом.

 
Valid XHTML 1.0! Программное обеспечение DSpace Copyright © 2002-2010  Duraspace - Обратная связь