DSpace  
 

Расширенный поиск
Главная страница
 
Просмотр
Разделы
 и коллекции
По дате публикации
По автору
По заглавию
По ключевым словам
По номенклатуре специальностей
По индексу УДК
 
 
Сотрудникам НББ:
Подписка
Мой кабинет
авторизированные пользователи
Редактировать профиль

Электронная библиотека >
Диссертации и авторефераты диссертаций >
Авторефераты диссертаций >

Идентификатор документа - используйте, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://dep.nlb.by/jspui/handle/nlb/31799

Заглавие: Разработка фотоэмиссионного метода и аппаратуры для контроля характеристик материалов микро- и оптоэлектроники
Автор(ы): Терпиловский Анатолий Иосифович
Ответственные лица и организации: Академия наук Белорусской ССР, Институт электроники
Ключевые слова: МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
ОПТОЭЛЕКТРОНИКА
ПОДЛОЖКИ
ПОВЕРХНОСТНЫЙ СЛОЙ
СПЕКТРЫ ИСПУСКАНИЯ
ИНФРАКРАСНОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
ИСПЫТАНИЯ МАТЕРИАЛОВ
ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ
МІКРАЭЛЕКТРОНІКА
ОПТАЭЛЕКТРОНІКА
ПАДЛОЖКІ
ПАВЕРХНЕВЫ СЛОЙ
СПЕКТРЫ ВЫПРАМЕНЬВАННЯ
ВЫПРАБАВАННІ МАТЭРЫЯЛАЎ
ФОТАЭЛЕКТРОННАЯ ЭМІСІЯ
ЭЛЕКТРОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ
ІНФРАЧЫРВОНАЕ ВЫПРАМЕНЬВАННЕ
ЭЛЕКТРОННЫЯ МАТЭРЫЯЛЫ
Дата публикации: 1983
Описание: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук
05.12.18
23.12.1983
Библиография: с. 20-22 (12 назв.)
Для служебного пользования.
Индекс УДК: 621.38-03:620.179.17(043.3)
Номенклатура специальности: 05.12.18
Находится в коллекции:Авторефераты диссертаций

Файлы документа:

Файл Описание РазмерФормат
default.html117 BHTMLОткрыть

Все документы в электронной библиотеке защищены авторским правом.

 
Valid XHTML 1.0! Программное обеспечение DSpace Copyright © 2002-2010  Duraspace - Обратная связь