Электронная библиотека: Моделирование влияния внешних и технологических факторов на электрофизические свойства твердотельных слоистых структур интегральной электроники

	Главная страница

Просмотр
	Разделы и коллекции
	По дате публикации
	По автору
	По заглавию
	По ключевым словам
	По номенклатуре специальностей
	По индексу УДК




Сотрудникам НББ:
	Подписка
	Мой кабинет авторизированные пользователи
	Редактировать профиль

Электронная библиотека >
Диссертации и авторефераты диссертаций >
Авторефераты диссертаций >

Идентификатор документа - используйте, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://dep.nlb.by/jspui/handle/nlb/31978

Заглавие:	Моделирование влияния внешних и технологических факторов на электрофизические свойства твердотельных слоистых структур интегральной электроники
Автор(ы):	Борздов Владимир Михайлович
Ключевые слова:	ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА МИКРОЭЛЕКТРОНИКА НАНОЭЛЕКТРОНИКА ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ІНТЭГРАЛЬНЫЯ СХЕМЫ ЦВЕРДАЦЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНІКА МІКРАЭЛЕКТРОНІКА НАНАЭЛЕКТРОНІКА ЭЛЕКТРАФІЗІЧНЫЯ ЎЛАСЦІВАСЦІ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
Дата публикации:	1999
Описание:	Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук 01.04.07 ; 05.27.01 Библиогр.: с. 32-41 (93 назв.)
Индекс УДК:	621.382.049.77(043.3)
Номенклатура специальности:	01.04.07 05.27.01
Находится в коллекции:	Авторефераты диссертаций

Файлы документа:

Файл	Описание	Размер	Формат
default.html		116 B	HTML	Открыть

Все документы в электронной библиотеке защищены авторским правом.

Программное обеспечение DSpace Copyright © 2002-2010 Duraspace - Обратная связь