DSpace  
 

Электронная библиотека >
Диссертации и авторефераты диссертаций >
Авторефераты диссертаций >

Идентификатор документа - используйте, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://dep.nlb.by/jspui/handle/nlb/32783

Заглавие: Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов
Автор(ы): Занкович Артем Петрович
Ответственные лица и организации: Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники"
Ключевые слова: ОПЕРАТИВНАЯ ПАМЯТЬ
ЗАПОМИНАЮЩИЕ УСТРОЙСТВА
АЛГОРИТМЫ
НЕИСПРАВНОСТИ
ДОСТОВЕРНОСТЬ
АПЕРАТЫЎНАЯ ПАМЯЦЬ
ЗАПАМІНАЛЬНЫЯ ЎСТРОЙСТВЫ
АССОЦИАТИВНАЯ ПАМЯТЬ
АЛГАРЫТМЫ
НЯСПРАЎНАСЦІ
ДАКЛАДНАСЦЬ
НЕРАЗРУШАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ (вычисл. техника)
НЕРАЗБУРАЛЬНАЕ ТЭСЦІРАВАННЕ (выліч. тэхніка)
Локально-симметричные тесты
Лакальна-сіметрычныя тэсты
Дата публикации: 2006
Описание: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук
05.13.05
15.06.2006
Резюме на русском, белорусском, английском языках
Библиография: с. 17-18 (17 назв.).
Индекс УДК: 004.33.054(043.3)(476)
Номенклатура специальности: 05.13.05
Находится в коллекции:Авторефераты диссертаций

Файлы документа:

Файл Описание РазмерФормат
default.html117 BHTMLОткрыть

Все документы в электронной библиотеке защищены авторским правом.

 

Valid XHTML 1.0! Программное обеспечение DSpace Copyright © 2002-2010  Duraspace - Обратная связь