DSpace  
 

Электронная библиотека >
Диссертации и авторефераты диссертаций >
Авторефераты диссертаций >

Идентификатор документа - используйте, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://dep.nlb.by/jspui/handle/nlb/37971

Заглавие: Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов
Автор(ы): Стемпицкий Виктор Романович
Ответственные лица и организации: Учреждение образования "Белорус. гос. ун-т информатики и радиоэлектроники"
Ключевые слова: СТАТИСТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ
ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ (мат.)
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
ІНТЭГРАЛЬНЫЯ СХЕМЫ
СТАТЫСТЫЧНЫ АНАЛІЗ
АПТЫМІЗАЦЫЯ ПАРАМЕТРАЎ (мат.)
ТЕХНОЛОГИЯ ПРОИЗВОДСТВА
ТЭХНАЛОГІЯ ВЫТВОРЧАСЦІ
ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
МІКРАЭЛЕКТРОННАЯ ПРАМЫСЛОВАСЦЬ
ПРАГРАМНАЕ ЗАБЕСПЯЧЭННЕ
Дата публикации: 2004
Описание: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук
05.27.01
18.11.2004
Рез.: белорус., рус., англ
Библиогр.: с. 16-18 (27 назв.).
Индекс УДК: 621.382.049.77.002(043.3)
Номенклатура специальности: 05.27.01
Находится в коллекции:Авторефераты диссертаций

Файлы документа:

Файл Описание РазмерФормат
default.html117 BHTMLОткрыть

Все документы в электронной библиотеке защищены авторским правом.

 

Valid XHTML 1.0! Программное обеспечение DSpace Copyright © 2002-2010  Duraspace - Обратная связь