Электронная библиотека: Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов

	Главная страница

Просмотр
	Разделы и коллекции
	По дате публикации
	По автору
	По заглавию
	По ключевым словам
	По номенклатуре специальностей
	По индексу УДК




Сотрудникам НББ:
	Подписка
	Мой кабинет авторизированные пользователи
	Редактировать профиль

Электронная библиотека >
Диссертации и авторефераты диссертаций >
Авторефераты диссертаций >

Идентификатор документа - используйте, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://dep.nlb.by/jspui/handle/nlb/37971

Заглавие:	Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов
Автор(ы):	Стемпицкий Виктор Романович
Ответственные лица и организации:	Учреждение образования "Белорус. гос. ун-т информатики и радиоэлектроники"
Ключевые слова:	СТАТИСТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ (мат.) ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ІНТЭГРАЛЬНЫЯ СХЕМЫ СТАТЫСТЫЧНЫ АНАЛІЗ АПТЫМІЗАЦЫЯ ПАРАМЕТРАЎ (мат.) ТЕХНОЛОГИЯ ПРОИЗВОДСТВА ТЭХНАЛОГІЯ ВЫТВОРЧАСЦІ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ МІКРАЭЛЕКТРОННАЯ ПРАМЫСЛОВАСЦЬ ПРАГРАМНАЕ ЗАБЕСПЯЧЭННЕ
Дата публикации:	2004
Описание:	Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук 05.27.01 18.11.2004 Рез.: белорус., рус., англ Библиогр.: с. 16-18 (27 назв.).
Индекс УДК:	621.382.049.77.002(043.3)
Номенклатура специальности:	05.27.01
Находится в коллекции:	Авторефераты диссертаций

Файлы документа:

Файл	Описание	Размер	Формат
default.html		117 B	HTML	Открыть

Все документы в электронной библиотеке защищены авторским правом.

Программное обеспечение DSpace Copyright © 2002-2010 Duraspace - Обратная связь